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Incircuittest-Systeme zur Prüfung von Baugruppen und Leiterplatten. Modulare Plattform, einfacher Ausbau vom MDA zum ICT und Funktionstest. Hohe Prüfgeschwindigkeit, hohe Prüfabdeckung. „Vom MDA bis zum High-End-ICT“ – Die passende Lösung für alle Anforderungen“ Incircuittest-Systeme zur Prüfung von Baugruppen und Leiterplatten. Modulare Plattform, einfacher Ausbau vom MDA zum ICT und Funktionstest. Hohe Prüfgeschwindigkeit, hohe Prüfabdeckung. Programmgenerierung aus CAD-Daten möglich. Auto-Debug für alle passiven Bauteile (R/L/C Bauteile, Kurzschluss/Unterbrechung, Clampingdioden und TestJet). Automatische Guardingfunktionen. Die TRI Testsysteme können, in Abhängigkeit von Testpunktanzahl, Prüfling und Durchsatz, mit allen Adaptersystemen kombiniert werden. Es gibt zahlreiche Lösungsbeispiele mit manuellen, pneumatischen, Vakuum-oder InLine- Adaptern.